芯片做環(huán)境試驗(yàn)要用到哪些設(shè)備？

溫濕度試驗(yàn)箱

不知道

溫度箱，濕度箱，震動箱，電磁干擾試驗(yàn)箱，。。。。

芯片做環(huán)境試驗(yàn)常用設(shè)備如下： 1. **高低溫試驗(yàn)箱**：模擬***溫度，檢測芯片在不同溫度下的性能。 2. **恒溫恒濕試驗(yàn)箱**：***控制溫濕度，測試芯片在復(fù)雜氣候條件下的可靠性。 3. **快速溫變試驗(yàn)箱**：短時(shí)間內(nèi)實(shí)現(xiàn)溫度快速變化，暴露芯片潛在缺陷。 4. **鹽霧試驗(yàn)箱**：模擬含鹽分環(huán)境，檢驗(yàn)芯片抗腐蝕能力。 5. **沙塵試驗(yàn)箱**：模擬沙塵環(huán)境，檢測芯片密封性與抗沙塵侵蝕能力。 6. **振動試驗(yàn)臺**：施加不同振動，評估芯片在運(yùn)輸、使用中抗振動的可靠性。 7. **沖擊試驗(yàn)臺**：產(chǎn)生瞬間高沖擊力，測試芯片受意外沖擊后的性能。

芯片做環(huán)境試驗(yàn)會用到恒溫恒濕試驗(yàn)箱、高低溫試驗(yàn)箱、鹽霧試驗(yàn)箱、沙塵試驗(yàn)箱和電磁兼容測試設(shè)備